在使用涂层厚度计时，有时测量结果会感到偏差，或测量校正样品的厚度不同，什么原因影响涂层测厚仪精度?

　　基体金属磁性：磁涂层厚度计受基体金属磁性变化(低碳钢磁性变化可忽略不计)的影响。同时，仪器应校准与试件基体金属性质相同的标准片，或涂层试件应校准，以避免热处理和冷处理因素的影响。

　　基金属的电性：涡流测厚仪受基金属电导率的影响，基金属的电导率与其材料成分和热处理方法有关。解决方案是使用与测试基金性质相同的标准板来校准仪器(这与第一点相同，并解释如何校准涂层厚度计)。

　　基金属厚度：每台仪器都有一个基金属的临界厚度。只要大于此厚度，测量就不会受到基金属厚度的影响。此外，由于每台仪器在测量时都有涂层的最小厚度值，因此除此值以外的涂层厚度无法测量。

　　边缘测量效果：涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此，不能靠近试件的边缘或内角进行测量，否则测量值会有较大的偏差。

　　试件曲率：试件曲率对测量有很大影响。随着曲率半径的降低，这种影响显著增加，即平面上的测量比平面上的测量更准确(很容易理解为最大曲面上的平面想象)。因此，在弯曲度较大的样品表面测量涂层厚度是不准确的。同样，当样品不同程度地变形时，也会导致测量偏差。

　　试件表面粗糙度：基体金属和覆盖层表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加，测量效果增加。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。每次测量时，应增加不同位置的测量次数，以克服这一意外错误。如果基金属粗糙，则必须将仪器的零点校对到基金属试件上的几个位置，而不是涂层的粗糙度相似;或者在使用对基金属无腐蚀性溶液去除覆盖层后，重新校准仪器的零点。简单理解：如果试件的粗糙度较高，则相当于峰谷。测量峰值上的涂层厚度将小于实际涂层厚度，峰值谷上的涂层厚度将大于实际涂层厚度。此外，对于涂层的粗糙度，由于仪器测量头需要与涂层测量紧密配合，涂层的峰谷测量会影响电导体上的磁阻值和涡流值反馈值。

　　环境磁场：测量环境周围存在各种电气设备产生的强磁场，严重干扰磁性法测厚仪。当周围存在不同程度的高频电磁波时，涡流法测厚仪也会受到影响。

　　确保仪器测头与被测件表面直接接触，去除附着在试件表面的物质。

　　测量头压力：测量头放置在试件上的压力尺寸会影响测量读数。因此，应保持恒压。在实际测量过程中，我们需要用一些力将测量头压在试件表面，而不是太大或太小。

　　测量头的方向：在测量过程中，应保持测量头垂直于样品表面，以获得最准确的值。如果测量头偏离，则得到更大的值。